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靜電槍又稱靜電放電發(fā)生器、靜電放電測(cè)試儀、靜電放電槍、靜電放電干擾測(cè)試儀、ESD測(cè)試儀等等; 靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)帶電的物體靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電），靜電放電對(duì)電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)的影響無處不在，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平才能保證電子產(chǎn)品的安全使用。ESD測(cè)試儀用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)的性能。產(chǎn)品完全滿足IEC61000-4-2和GB/T17626.2等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
EMC 031功能抗擾度測(cè)試儀是可進(jìn)行靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度及浪涌（沖擊）抗擾度三項(xiàng)試驗(yàn)的多功能組合抗擾度測(cè)試設(shè)備。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.2《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-2：Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test、GB/T 17626.4《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-4：Testing and measurement techniques-Electrical fast fransient/burst immunity test、GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-5：Testing and measurement techniques-Surge immunity test
電路中，諸如來自切換瞬態(tài)過程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈跳等），通常會(huì)對(duì)同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點(diǎn)是：高幅值、上升時(shí)間短、高重復(fù)率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對(duì)半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯(cuò)。我司自主研發(fā)的脈沖群發(fā)生器為評(píng)估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù)。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.4《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-4：Testing and measurement techniques-Electrical fast fransient/burst immunity test
智能型雷擊浪涌發(fā)生器SUR 0561用于評(píng)估設(shè)備在遭受來自電源線端口和其他信號(hào)線端口上高能量騷擾時(shí)的性能，自然界的雷擊（間接雷）以及供電線路中因大型開關(guān)切換所引起的電壓變化對(duì)供電線路和通信線路的影響，其能量特別大，對(duì)產(chǎn)品的影響可能是破壞性的。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》、IEC61000-4-5：Testing and measurement techniques-Surge immunity test
雷擊浪涌發(fā)生器SUR 8/20V1專門針對(duì)半導(dǎo)體器件及手機(jī)通信產(chǎn)品而設(shè)計(jì)的低壓浪涌試驗(yàn)，依據(jù)電磁兼容試驗(yàn)中的雷擊浪涌抗擾度試驗(yàn)特點(diǎn)和要求而設(shè)計(jì)的低壓雷擊浪涌發(fā)生器。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-5：Testing and measurement techniques-Surge immunity test
電壓暫降、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對(duì)電源電壓的變化不能及時(shí)做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。電壓跌落發(fā)生器用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的性能 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.11《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓跌落、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-11：Electromagnetic compatibility-Testing and measurement techniques-Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity test
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)帶電的物體靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電），靜電放電對(duì)電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)的影響無處不在，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平才能保證電子的安全使用。我司自主研發(fā)的靜電放電發(fā)生器用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)的性能。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.2《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》、IEC61000-4-2：Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)帶電的物體靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電），靜電放電對(duì)電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)的影響無處不在，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平才能保證電子的安全使用。我司自主研發(fā)的靜電放電發(fā)生器用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)的性能。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.2《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-2：Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test
靜電消除刷能更好的消除靜電。
振鈴波是由電源和控制線開關(guān)切換或雷擊引起，并出現(xiàn)在設(shè)備的端子上。振鈴波可能影響設(shè)備和系統(tǒng)的可靠運(yùn)行。振鈴波發(fā)生器用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受振鈴波時(shí)的性能。產(chǎn)品滿足IEC61000-4-12和GB/T17626.12等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象，ESD 8K 是針對(duì)人體模型(HBM)和機(jī)械模型(MM)的靜 電放電抗擾度試驗(yàn)的特點(diǎn)和要求而專門設(shè)計(jì)，分HBM 靜電測(cè)試平臺(tái)和MM 靜電測(cè)試平臺(tái)。 適用于如 LED、晶體管、IC 等半導(dǎo)體器件的測(cè)試。產(chǎn)品滿足 ANSI-STM5.1-2001、 JESD22-A114D -2005、AEC-Q100-002D -2003 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
ESD 2200靜電場(chǎng)耦合裝置可在場(chǎng)耦合平板和放電島上施加直接放電或間接放電測(cè)試。靜電場(chǎng)耦合裝置是嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)，產(chǎn)品完全滿足ISO 10605和GB/T 19951等新標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求。
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